可靠性測試辦理常規(guī)測試項目有哪些

文章出處：環(huán)測威人氣：94發(fā)表時間：2025-06-25

可靠性測試辦理常規(guī)測試項目有哪些？可靠性測試主要分為以下幾大類，涵蓋不同環(huán)境、機械、壽命及專項場景下的評估項目：

　　環(huán)境可靠性測試

　　模擬產品在自然或使用環(huán)境中的耐受能力，包括：

　　1、氣候適應性測試

　　溫度測試：高溫、低溫、溫度循環(huán)（TCT）、冷熱沖擊（TST）

　　濕度測試：恒定濕熱、交變濕熱、鹽霧腐蝕、混合氣體腐蝕

　　其他環(huán)境：低氣壓、防塵（IP1X-6X）、防水（IPX1-X9）、光照老化（UV/氙燈）

　　2、機械應力測試

　　振動測試：隨機振動、正弦振動

　　沖擊測試：機械沖擊、碰撞、跌落、高加速沖擊

　　持續(xù)應力測試：按鍵壽命、插拔耐久、彎折試驗

　　壽命與耐久性測試

　　評估產品長期使用的可靠性：

　　1、加速壽命試驗

　　加速老化：通過高溫、高濕、電壓等應力加速失效（如HALT/HASS）

　　疲勞測試：循環(huán)載荷模擬長期使用損耗

　　2、常規(guī)壽命試驗

　　MTBF（平均無故障時間）驗證

　　高溫存儲（HTST）、功率溫度循環(huán)（PTC）

　　專項可靠性測試

　　針對特定領域或組件：

　　1、芯片可靠性測試

　　溫濕度偏壓壽命（THB）、高壓蒸煮（PCT）、焊線推拉力、錫球熱拔試驗

　　2、包裝與運輸測試

　　堆碼抗壓、水平夾持、運輸振動模擬

　　3、電磁與電學性能測試

　　絕緣電阻、耐壓測試、接地電阻、射頻性能

　　綜合與篩選測試

　　1、環(huán)境應力篩選（ESS）

　　溫度循環(huán)+隨機振動組合，剔除早期故障

　　2、綜合環(huán)境測試

　　溫度+濕度+振動三綜合試驗、HASA高加速應力篩選

　　常用標準依據(jù)

　　IEC 60068（環(huán)境試驗）、ISO 16750（汽車電子）、JEDEC JESD22（半導體）、GB/T 2423系列等。

　　具體測試項目的選擇需結合產品應用場景（如消費電子、汽車、軍工）及行業(yè)標準，部分測試可能交叉重疊（如鹽霧試驗兼具環(huán)境和腐蝕評估）。

　　以上資料由環(huán)測威檢測整理發(fā)布，如有疑問或需檢測認證歡迎與環(huán)測威檢測直接溝通（4008-707-283）。深圳CTB檢測機構擁有自建實驗室，為廣大客戶提供各行各業(yè)的檢測認證服務，深受廣大客戶信賴。